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X衍射检测
X衍射实验室拥有Philips Co靶粉末衍射仪,对于分析含有Fe,Ni,Mo,Cr元素的金属,陶瓷,矿石(比如锂离子,镍氢电极材料,钢铁,铁矿石等物质)的物相,晶体结构有很好的效果,相比于普通的Cu靶,可以大幅提高峰背比,对微量相灵敏度,定量分析准确度都有很大的提高。
 

实验室拥有RIGAKU SmartLab 9kw转靶衍射仪,测量精度为0.0001°。可以完成物质鉴定,晶型,晶胞参数,定量相分析等,同时配备D/tex高速阵列探测器(可以大幅提升强度和扫描速度),高低温样品台,可以开展-180℃~1200℃原位变温XRD分析。 
实验室plilips X‘pert MRD衍射仪配备系统的高分辨率光学模块,包括5轴样品台,Ge[220]四晶单色器(可以将入射光束的FWHM控制到10arcsec),三轴晶系统(可以将衍射光束控制到5arcsec),Mirror多层膜反射镜,Lens聚光镜等。可以完成半导体外延膜,单晶衬底的倒易空间二维扫描,摇摆曲线,反射率曲线测量,从而分析镶嵌块结构,超晶格周期性,晶体取向,点阵常数,元素计量比,应力弛豫,薄膜厚度等高分辨率衍射的晶体结构信息。
 
倒易空间图

超导薄膜块畴结构

高能电子辐照的单晶硅(004)晶面倒易二维图

摇摆曲线

反射率曲线


实验室可以开展织构(择优取向)分析,可以很好的修正背景和散焦影响,亦可以根据客户要求进行样品的线性摆动(扩大X射线照射面积)。获得更为准确的极图,ODF,取向线等织构数据。 


实验室可以开展残余应力分析,依据单晶体,多晶体的样品的择优取向程度,样品残余应力状态(单轴应力,平面应力,三维应力)等不同的情况,采用不同的实验方法获得更为接近真实残余应力状态的数据。




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