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化学成分分析

中心从事金属材料、半导体材料、矿物、水质等的成分分析和分析测试技术研究。所采用的方法包括化学法和仪器法,能够检测样品中的常量、微量、痕量、超痕量成份。化学分析方法主要包括重量法、容量法、分光光度法;仪器分析主要采用如下仪器进行检测:

仪器名称 辉光放电质谱仪(Element GD型/ Thermo Fisher) 
测量范围 0.00x~xmg/kg或百分含量区间为10-7%~10-4% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在0.00x mg/kg的RSD在50%~100%左右。 
检测特色 元素化学成分分析和同位素比例分析,通常只能进行半定量分析。直接固体进样,可以测定含量低至0.00xmg/kg或10-7%的元素含量;可以进行金属表层逐层成分分析;低含量元素同位素比例分析;多元素(周期表中大多数元素)快速同时分析。

仪器名称
低温傅里叶红外光谱仪(VERTEX 80V/Bruker) 
测量范围 0.00x~0.xμg/kg或百分含量区间为10-10%~10-7% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在0.00x μg/kg 的RSD在50%~100%左右。 
检测特色 单晶硅中Ⅲ,Ⅴ族元素测定。直接固体进样,可以测定单晶硅中Ⅲ,Ⅴ元素含量低至10-10%的元素含量。 

仪器名称 傅里叶红外光谱仪(Tensor/ Bruker) 
测量范围 测定百分含量区间为大于10-8% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在0.x ug/kg 的RSD在50%~100%左右。 
检测特色 直接固体进样,可以测定单晶硅中Ⅲ,Ⅴ元素含量低至10-8%的元素含量。 

仪器名称 原子荧光光度计( AFS830/吉天) 
测量范围 仅可测试As,Sb,Bi,Ge,Sn,Pb,Zn,Cd,Hg,Se,Te11种元素,测定范围0.000001%~0.01% 
测量精度 RSD小于1% 检测特色 检出限小于0.02ng/ml,30min信号漂移小于1%.在有合适标样前提下,可以实现固体直接测试,避免了样品前处理所带来的问题,适合大批量同类型样品的连续测定。 

仪器名称 直流电弧光谱仪(PGS-2/ Prodigy)
测量范围 0.0001%-0.05% 
测量精度 RSD%<30% 
检测特色 微痕量元素的定性定量分析。特别针对难溶(熔)物料中微痕量多杂质元素的直接定性定量分析。 

仪器名称 电感耦合等离子体质谱仪(7700x型/ Agilent) 
测量范围 0.x~xx mg/kg 或者表示为质量分数为10-5%~10-2% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在x mg/kg的RSD在5%左右;同位素分析偏差在0.5%左右。 
检测特色 元素化学成分定量分析,元素同位素比例分析。可以测定含量低至0.x mg/kg或10-2%的元素含量;物质含量的半定量分析;元素同位素比例分析;多元素(周期表中大多数元素)快速同时分析。
 


仪器名称 电感耦合等离子体原子发射光谱仪(725E型/ Agilent) 
测量范围 百分含量区间为10-3%~1x% 测量精度 参考相关检测标准,通常含量在10-2%的RSD在5%左右。 
检测特色 元素化学成分定量分析。多元素(周期表中大多数元素)快速同时分析。
 

仪器名称 紫外可见分光光度计(UV-1750/ SHIMADZU) 
测量范围 0.005%~1% 
测量精度 RSD(标准偏差)小于1% 
检测特色 波长示值误差0.1nm以内,30min漂移在0.1%以内。经典分析方法,适用于样品的仲裁分析。同时适用于F/Cl等阴离子的测定。 

仪器名称 波长色散X荧光光谱仪(PW-2400/ Panalytical) 
测量范围 百分含量区间为0.01%~99.90% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在0.01%~1.00%的RSD在5%,左右, 含量在1.00%~99.90%的RSD在1%,左右. 
检测特色 固体测量,可以定量分析含量在0.01%~99.90%元素含量;可以进行贵金属无损检测分析,周期表中氧以后的元素能快速定性(半定量)和定量分析。 

仪器名称 原子吸收光谱仪(WFX-1C) 
测量范围 质量百分数10-3%~10-1% 
测量精度 参考相关检测标准,通常含量在10-2%的RSD在5%左右。 
检测特色 谱线干扰少,使用成本相对较低;分析速度慢,一次只能测定一个元素。 

仪器名称 火花直读光谱仪器(ARL- OUANTRIS/ Thermo Fisher) 
性能参数 采用标准块测定,允许误差小于0.06%,测量稳定性小于1% 
测量范围 可测试铝基,铜基,钛基和镁基样品,测定范围0.0001%~90% 
测量精度 RSD小于1% 
检测特色 在有合适标样前提下,可以实现固体直接测试,避免了样品前处理所带来的问题,适合大批量同类型样品的连续测定。

仪器名称 碳硫测定仪(CS844 /LECO) 
性能参数 加热方式,高频感应炉,18MHz,额定功率4.5kVA,功率程序可控,感应圈采用水冷方式;碳硫-非色散红外吸收法检测 
测量范围 碳:0.6ug/g-6%,@1g试样 硫:0.6ug/g-0.4%,@1g试样 
测量精度 碳:0.6ug/g-6%,@1g试样 硫:0.6ug/g-0.4%,@1g试样 
检测特色 可用于金属材料及合金和一些化合物、矿物中碳硫含量的测定。仪器采用高频感应炉加热,18MHz,额定功率4.5kVA,功率程序可控,感应圈采用水冷方式,燃烧系统的灰尘过滤器装置具备加热装置,提高加热部件的工作效率和SO2的转化效率。 

仪器名称 氧氮氢测定仪(ONH836/ LECO) 
性能参数 电极脉冲炉额定功率 9.2kVA;
检测方式 氧/氢 非色散红外吸收方法,氮 热导法方法 
测量范围 氧: 0.05μg/g -5.0%@1g试样 氮: 0.05μg/g -3.0%@1g试样 氢:0.1μg/g – 0.25%@1g试样 
测量精度 氧:0.025μg/g 或0.5%RSD 氮:0.025μg/g 或0.5%RSD 氢:0.04μg/g 或2.0%RSD 
检测特色 仪器采用电极脉冲炉加热,额定功率9.2kVA;采用非色散红外吸收方法检测氧/氢,热导检测方式检测氮,真正实现了各种金属、无机物等材料氧氮氢含量的联合分析。 

仪器名称 氢测定仪(RH600 /LECO) 
性能参数 脉冲电极炉加热,最高功率9.2kvA;红外检测器,可测至0.1μg/g的金属中氢 
测量范围 0.1μg/g~0.25%@1g试样 
测量精度 0.05μg/g或2.0%RSD 
检测特色 由于采用电极炉加热,温度很快可达3000℃,能够保证试样在高温下快速、充分熔化,尤其可用于难熔金属钛、锆、钽、钨、钼等中氢的测试;技术上的创新使仪器的灵敏度和精度更高,可测定低至0.1μg/g氢含量的试样,测定相对偏差仅为2%。

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